什么環(huán)境下不適合用近紅外光譜儀
發(fā)布時(shí)間： 2022-03-01 瀏覽次數(shù): 作者：邁昂科技
近紅外光譜儀是按照光的相干性原理設(shè)計(jì)的，因而是一種干涉型光譜儀，它主要由光源，干涉儀，檢測器，計(jì)算機(jī)和記錄系統(tǒng)組成，絕大多數(shù)光譜儀使用了干涉儀，因而實(shí)驗(yàn)測量的原始光譜圖是光源的干涉圖，然后通過計(jì)算機(jī)對干涉圖進(jìn)行快速傅立葉變換計(jì)算，進(jìn)而得到以波長或波數(shù)為函數(shù)的光譜圖，因此，譜圖稱為近紅外光譜儀。
近紅外光譜儀是一種用于精確檢測和分析的裝置，可以在使用過程中執(zhí)行準(zhǔn)確的測試和測試功能。盡管可靠的近紅外光譜儀允許用戶快速獲得檢測物質(zhì)的主要信息元素，但在使用過程中，仍然需要按照規(guī)范操作并注意所使用的環(huán)境條件。
在以下環(huán)境條件下，不適合使用設(shè)備，否則的話會損壞設(shè)備：
因?yàn)槠涓呔?，它對潮濕環(huán)境也非常敏感。因而，請勿在使用過程中過于潮濕的環(huán)境中使用，以免設(shè)備檢測結(jié)果出現(xiàn)錯(cuò)誤或不準(zhǔn)確，并可能導(dǎo)致設(shè)備長時(shí)間處于潮濕環(huán)境中。異?；驌p壞。
不適合用于許多高濕度環(huán)境，因?yàn)樵S多材料在高濕度的影響下無法識別和測試，最終的測試數(shù)據(jù)和材料性質(zhì)的識別受到很大影響。
對于許多高磁場環(huán)境，準(zhǔn)確性會受到嚴(yán)重影響。因而，避免在某些高磁場環(huán)境中使用設(shè)備會影響磁力的準(zhǔn)確性和干擾，并且存在大量的磁場環(huán)境。磁力會破壞拉曼光譜儀的正常檢測，如工廠車間和計(jì)算機(jī)或電視側(cè)有一定的磁場，不要在這些地方使用高精度拉曼光譜儀。
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